当你进行样品测试时，激光照射在样品表面的能量是非常大的，尤其在采用nir或uv激光激发时。尤其是一些样品在光照下对热或光是十分敏感的，这会导致测量信号包含样品烧毁后的特征，而不是样品本征的信号(例如，非晶碳膜在1500cm-1波数附近的本征峰在强光激发时会显示出石墨化的碳峰)。通常遇到这样的问题时，可在样品测试前后通过显微镜白光像观察样品表面是否发生明显变化，因此需选择正确的激光功率来进行测试。
为避免样品表面烧毁，在开始测试时应选用较低的激发功率，尤其用nir或uv激光激发时。在---样品不被烧毁的前提下可提高激发功率以得到很强的信号。当激光功率衰减到1％仍无法避免样品烧毁时，可考虑转换低倍物镜以降低照射在样品表面的功率密度。另外还可采用欠焦照射模式或线---照射模式。如果问题是由于高功率二极管激光器引起的，可考虑转换成低功率可见激发系统。
1. 曾经一度怀疑线性ccd坏掉了，沧州手提式共---拉曼，劝老板再买一个，可老板坚持说不可能的，(没可能坏的啦)。事实证明他是对的。
2. 将拉曼光谱从显微镜光路拆下，倒置固定在光学平台上。
3. 仔细观察光路，拆下大部分零件，拆前拍照记下原始位置。fig. 4
4. 用白胶水粘紧光栅与反射镜。
5. 拆下两块滤光片，用一块反射镜反射回去，微调半透半反镜并用小孔检查光路，让入射光与出射光重合，使反射光透过pinhole，并且在ccd 镜头前看到光栅散射出的长条光斑。
6. 仔细调节laser diode 后方的三个调整螺丝，同时微调pinhole的位置（上方两个机米螺丝，下方一个弹性机米螺丝，前方两个紧固螺丝），使透过pinhole的光强达到大且光路共轴垂直。耐心缓慢旋转每一个旋钮体会光斑的强度与移动趋势。（难的一步）
7. 将外壳从光学平台卸下并封装好，复原。倒置接回显微镜光路，并仔细调两个反射镜的四个旋钮，使光斑在屏幕正中央。
8. 安装后，调节显微镜的上方卤灯的明暗，手提式共---拉曼报价，观察到有信号强弱的变化，若没有，拆掉，重复上述步骤 2-7。
9. 观察到明暗，使用标准样品，用长积分时间（20s），观察到拉曼信号。fig.7（a）
10. 使用软件上的校准功能(specify calibration peaks)，用polystyrene样品重新校准。
11. 拆下再次做细微调整让信号强。fig.7（b）
检查仪器和所有附件插座都插好并接通电源。
---激光器（如果附带电源）都插好并接通，由于激光器有不同种类，可参照每个激光器的说明书获取进一步的帮助。
在有两个或多个激光器的系统中，---联锁系统设置在正确的位置上，正确的激光器被接通。
检查仪器的外罩处于安全的关闭状态，联锁装置正在运转。
如果以上操作都已经检查过，手提式共---拉曼多少钱，你就可以准备进行光谱测试了。将样品放置在显微镜下，启动光谱操作软件，如果你仍不能得到光谱，检查下面各项。
---样品被正确地放置在显微镜下，即样品被准确地---并照射在样品正确的位置上。测量时经常需改变不同的测试区域以避免因样品不纯带来一些非期望结果的可能。
---激光正确辐照在样品上，---显微镜光圈的孔径设置正确并处于正确的位置上（不同品牌的拉曼光谱仪按各自的要求处理）。
检查所有软件窗口的设置是否正确。
检查成像区域设置窗口的数值并---激光像点处于该区域的中心。标准成像区域应该是激光像点中心垂直方向两边各10个像元。检查狭缝的设置，手提式共---拉曼结构，当进行标准操作时，狭缝应为50μm。
如果ccd探测器饱和了，你将得不到任何有用的信息。可采用降低激发光功率或提高仪器的共焦程度来避免。
当检查完上述各项后，你应该可以得到一张样品的拉曼谱图。如你仍然不能得到谱图，可先尝试测试单晶硅的拉曼谱。单晶硅是---的拉曼散射体，可以用来帮助验证仪器的性能。如果用单晶硅样品可以获取硅的520cm-1峰，再尝试测试样品。现在你可以得到样品的拉曼信号，但可能噪声较大。在这种情况下，可参照q4的建议来提高信噪比和信背比。
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